铌酸锂晶体检测
铌酸锂晶体检测摘要：检测项目1.折射率均匀性：测量632.8nm波长下Δn≤0.00052.电光系数r33：标称值30.80.5pm/V@633nm3.居里温度：标准值121010℃4.光学损耗系数：≤0.1dB/cm@1550nm5.压电常数d33：基准值60.3pC/N检测范围1.Z切/Y切/X切单晶基片2.周期性极化铌酸锂晶体3.掺镁/掺铁改性晶体4.薄膜型集成光学元件5.声表面波滤波器芯片检测方法1.GB/T11297.11-2015激光晶体折射率测试法2.ASTMF534-08(2023)电光系数干涉测量法3.IS
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.折射率均匀性：测量632.8nm波长下Δn≤0.0005
2.电光系数r33：标称值30.80.5pm/V@633nm
3.居里温度：标准值121010℃
4.光学损耗系数：≤0.1dB/cm@1550nm
5.压电常数d33：基准值60.3pC/N
检测范围
1.Z切/Y切/X切单晶基片
2.周期性极化铌酸锂晶体
3.掺镁/掺铁改性晶体
4.薄膜型集成光学元件
5.声表面波滤波器芯片
检测方法
1.GB/T11297.11-2015激光晶体折射率测试法
2.ASTMF534-08(2023)电光系数干涉测量法
3.ISO17561:2016压电材料参数测试规范
4.GB/T3389-2015介质材料介电常数测试
5.ISO14707:2000晶体表面缺陷电子显微分析法
检测设备
1.J.A.WoollamM-2000UI全自动椭偏仪：测量折射率分布
2.RigakuSmartLabX射线衍射系统：分析晶体取向误差≤0.01
3.Agilent4294A精密阻抗分析仪：测试介电损耗(tanδ≤110⁻)
4.PerkinElmerLambda1050紫外分光光度计：光谱透过率测试范围190-3300nm
5.NetzschSTA449F3同步热分析仪：居里温度测定精度1℃
6.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：表面粗糙度Ra≤1nm
7.KeysightN5227A网络分析仪：微波介电性能测试至50GHz
8.ZygoNewView9000白光干涉仪：面形精度λ/20@632.8nm
9.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD系统：晶格常数测定误差0.0001nm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析铌酸锂晶体检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
30473
